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特定補助金

等の概要

このデータは、中小企業庁 のホームページ、http://www.chusho.meti.go.jp/keiei/gijut/sbir/ 19fy/index.html 「中小企業技術革新制度(SBIR)−ご利用の手引き−」(平成1 9年度版)をもとに 作成したものです。

 

事業名称 高度分析機器開発実用化プロジェクトに係る補助金
実施機関 経済産業省 製造産業局 産業機械課
制度概要 燃料電池、情報家電、ナノテク等の先端新産業においては、材料解析、性能評価、品質管理といった産業のあらゆる面で高度な分析技術が必要とされている。具体的には、多種多様な超微量の試料を的確に検出し計測評価する技術が求められている。
  本研究開発では、超微量成分分析技術の開発や超低濃度試料の物質認識技術の開発を行う。具体的な技術開発要素としては4つあり、従来以上の「局所的」又は「希薄な」試料を対象とした超微量分析における@リアルタイム分析技術、A低侵襲分析技術、B迅速分析技術およびC分離・分子認識技術である。
対象者 民間企業等
対象技術開発 分析機器
公募時期 平成18年4月28日 〜 平成18年6月2日
交付金額 19年度予算額:300百万円
実施期間 平成18年度〜平成20年度
採択数 5件
平成18年度 ・有機物質及び陽イオンモニタリング装置の開発
採択テーマ例 ・表面微量分析用高感度3D−TOF質量分析装置の開発
  ・「クリーンルーム中の低濃度汚染物質の濃度検出装置」の開発
  ・ガスイオン源搭載の集束イオンビーム装置の開発
  ・収差補正器およびSDD組込型EDSを搭載するEPMAの開発
問い合わせ先 経済産業省 製造産業局 産業機械課
電話:03−3501−1691
公募案内等掲載の  
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最終更新日 : 2008/01/15